进口应变片应用 上海邑成测试设备供应

金属电阻应变片金属电阻应变片分为丝式电阻应变片、箔式电阻应变片，薄膜式电阻应变片三种。金属丝电阻应变片的典型结构见图。它主要由粘合层1、3，基底2、盖片4，敏感栅5，进口应变片应用，引出线6构成。金属箔式应变片的敏感栅，则是用栅状金属箔片代替栅状金属丝。金属箔栅采用的是光刻技术制造，适用于大批量生产。由于金属箔式应变片具有线条均匀、尺寸准确，进口应变片应用、阻值一致性好、传递试件应变性能好等优点，因此，进口应变片应用，目前使用的更多为金属箔式应变片。通过惠斯通电桥，电阻的变化产生一个高精度，非常可靠的测量信号。进口应变片应用

薄膜型半导体应变片这种应变片是利用真空沉积技术将半导体材料沉积在带有绝缘层的试件上或蓝宝石上制成的（图1）。它通过改变真空沉积时衬底的温度来控制沉积层电阻率的高低，从而控制电阻温度系数和灵敏度系数。因而能制造出适于不同试件材料的温度自补偿薄膜应变片。薄膜型半导体应变片吸收了金属应变片和半导体应变片的优点，并避免了它的缺点，是一种较理想的应变片。薄膜型半导体应变片吸收了金属应变片和半导体应变片的优点，并避免了它的缺点，是一种较理想的应变片。 浙江共和应变片选型什么是应变?应变是用来描述材料变形量。某种材料的组件或对象可能被拉长或压缩而产生应变。

单枚应变片一般用于测量单轴应变，应变花用于测量平面应力状态。材料泊松比的测量宜选用正交的双轴应变花。应力分析宜选用0/90/45度的三轴应变花。二轴90 应变花用于主应力方向已知的场合，三轴和四轴应变花则用于主应力方向未知的场合。60Ω的应变片常用于弯曲校正（两枚应变片位于同一桥臂上），120Ω的应变片用于一般应力测量，350~1000Ω的应变片用于制作应变型传感器。单枚应变片一般用于测量单轴应变，应变花用于测量平面应力状态。材料泊松比的测量宜选用正交的双轴应变花。应力分析宜选用0/90/45度的三轴应变花。二轴90 应变花用于主应力方向已知的场合，三轴和四轴应变花则用于主应力方向未知的场合。60Ω的应变片常用于弯曲校正（两枚应变片位于同一桥臂上），120Ω的应变片用于一般应力测量，350~1000Ω的应变片用于制作应变型传感器。

a)应变片的粘贴：注意分清应变片的正、反面(有引出线引出的一面为正面)，将应变片的正面贴在透明胶布上，然后在应变片的粘贴面上匀而薄地涂上一层粘结剂(502粘结剂)。待一分钟后，当胶水发粘时，校正方向(应变片的定位线与十字线交叉线对准，其电阻栅的丝绕方向与十字线中较长线的方向一致)即保证电阻栅的中心与十字交叉点对准，用手沿一个方向滚压1~2分钟即可。b)应变片粘贴完毕后的检查：应变片贴好后，先检查有无气泡、翘曲、脱胶等现象，再用万用表的电阻档检查应变片有无短路、断路和阻值发生突变(因应变片粘贴不平整导致)的现象，如发生上述现象，就会影响测量的准确性，这时要重贴。应变率Ks是表示应变片灵敏度的系数。用于一般应变片的铜镍合金和镍铬合金的应变率Ks大约为2。

薄膜式应变片的敏感栅是以蒸镀或溅射法沉积的金属、合金薄膜制成的。其厚度一般在0.1μm以下。实际上，通常是将薄膜式应变片与传感器的弹性体制成一个不可分割的整体，亦即在传感器弹性体的应变敏感部位表面上首先沉积形成很薄的绝缘层，然后在其上面沉积薄膜应变片的图形，然后再覆上一层保护层。由于薄膜式应变片与传感器的弹性体之间只有一层超薄绝缘层（厚度*为几个纳米），很容易通过弹性体散热，因此允许通过比其他种类应变片更大的电流，并可以获得更高的输出和更佳的稳定性。一般的应变片是在电绝缘体的树脂基底上，安装电阻材料的金属箔和引出导线的应变片导线。浙江共和应变片选型

应变片的敏感栅是一条窄导体条曲折排列成的一组平行导线。进口应变片应用

技术准备1)测试点的选择测点的选择和布置对能否正确了解结构的受力情况和实现正确的测量影响很大。测点愈多，愈能了解结构的应力分布状况，然而却增加了测试和数据处理的工作量和贴片误差。因此，根据应以**少的测点达到足够真实地反映结构受力状态的原则，来选择测点。为此，一般应考虑：a）预先对结构进行大致的受力分析，预测其变形形式，找出危险断面及危险位置。根据受力分析和测试要求，结合实践经验***选定测点。b）在截面尺寸急剧变化的部位或因孔、槽导致应力集中的部位，应适当多布置一些测点，以便了解这些区域的应力梯度情况。c）如果比较大应力点的位置和方向难以确定，或者为了了解截面应力分布规律和曲线轮廓段应力过渡的情况，可在截面上或过渡段上比较均匀地布置多个测点或者用应变花测量。d）利用结构与载荷的对称性，以及对结构边界条件的有关知识来布置测点，往往可以减少测点数目，减轻工作量。e）测量载荷时尽量选择受力状态单一、应变反应灵敏的部位作为测量点。进口应变片应用

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